搜索基于Hypermesh的Flip-Chip封裝工藝對(duì)電子器件的可靠性研究
2019-04-18 by:CAE仿真在線 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)
Flip-Chip封裝具有成本低、工藝簡(jiǎn)單、引腳密度高和可靠性高等優(yōu)點(diǎn),目前已成為高端高密度IC封裝中的主流封裝形式。Flip Chip封裝中,在回流焊之后,需要對(duì)Chip、Solder、Substrate部位進(jìn)行灌膠處理。然而,由于回流焊后會(huì)在Solder周?chē)鷼埩糁竸┑入s質(zhì)缺陷,Solder表面不能完全充滿(mǎn)Underfill。本文,對(duì)清洗干凈條件下的Solder充滿(mǎn)Underfill和未清洗干凈條件下Solder未充滿(mǎn)Underfill兩種情況下,建立有限元模型,基于Hypermesh強(qiáng)大的網(wǎng)格劃分和編輯功能,分析了兩種模型在熱循環(huán)載荷下的應(yīng)力,并計(jì)算了疲勞壽命。
一、模型的建立
由于結(jié)構(gòu)的對(duì)稱(chēng)性,我們對(duì)結(jié)構(gòu)的1/2建立模型。如圖1所示為模型的結(jié)構(gòu)示意圖,模型中包含Chip、Substrate、Solder和underfill。焊球所用的材料為塑性材料,且其塑性與溫度和應(yīng)變率有關(guān)系。
二、網(wǎng)格的劃分
圖2所示為網(wǎng)格的劃分示意圖。本案例中,清洗干凈條件下,節(jié)點(diǎn)個(gè)數(shù)為4525;未清洗干凈條件下,中去除Solder四周邊界的單元,網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)個(gè)數(shù)為4447。
三、載荷施加
載荷為熱循環(huán)載荷,加載分為5步。依次為:升溫-保溫-降溫-保溫-升溫。溫度循環(huán)曲線如下如所示。
四、結(jié)果分析
圖4和圖5分別為清洗干凈條件下和未清洗干凈條件下模型的位移場(chǎng)分布圖,從中可以看出,模型的最大位移都為4.79×10-2μm,表明是否清洗干凈對(duì)器件的變形基本沒(méi)有影響。圖6和圖7分別為清洗干凈條件下和未清洗干凈條件下模型的等效塑性應(yīng)變場(chǎng)分布圖,從圖中可以看出清洗干凈條件下Soleder的最大等效塑性應(yīng)變?yōu)?.47×10-2;而未清洗干凈下,Soleder的最大等效塑性應(yīng)變?yōu)?.15×10-2;可見(jiàn)相對(duì)于清洗干凈條件下,未清洗條件下Solder的最大塑性應(yīng)變較大。據(jù)此,我們可以利用著名的Coffin-Manson equation對(duì)器件的疲勞壽命進(jìn)行計(jì)算。從中可以看出,相對(duì)于清洗干凈條件下,未清洗干凈條件下器件的疲勞壽命大大降低。在這種情況下,經(jīng)計(jì)算得到solder的疲勞壽命約為清洗干凈下的65%?？梢?jiàn),回流焊后Solder未清洗干凈大大影響器件的可靠性。
圖6 清洗干凈條件下Soleder的等效塑性應(yīng)變
五、結(jié)論
本文對(duì)在Flip-Chip封裝工藝中,對(duì)真空回流焊后Solder清洗干凈條件下與未清洗干凈條件下的器件建立了兩種有限元分析模型,載荷為電子可靠性試驗(yàn)中的溫度循環(huán)載荷。有限元分析結(jié)果表明,相對(duì)于清洗干凈條件下,未清洗干凈中Solder的最大塑性應(yīng)變較大,同時(shí)壽命大大降低,電子器件的可靠性也大大降低。因此,Flip-Chip回流焊后的清洗工藝對(duì)器件的可靠性有很大的影響。在Flip-Chip封裝工藝中,需要完善清洗工藝,確保Solder表面處無(wú)雜質(zhì),使underlfill充滿(mǎn)Solder的周?chē)?
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